雙光束相移電子散斑干涉儀，是將兩束激光對稱照射到漫反射物體的同一表面，表面散射光之間產(chǎn)生互相干涉，通過比較變形前后的干涉圖案，可以獲得代表物體表面面內(nèi)位移變化的干涉條紋。結(jié)合相移技術(shù)，可以使雙光束相移電子散斑干涉儀的面內(nèi)位移測量靈敏度達到納米級。
條紋圖與應力加載曲線
| 技術(shù)參數(shù) |
| 圖像采集 | 4000×3000 分辨率，32fps，USB3.0 |
| 鏡頭 | 25mm定焦鏡頭（標配，可選鏡頭），C接口 |
| 光源 | 半導體激光器（輸出功率50mW、波長532nm） |
| 測量視場 | 200mm×200mm |
| 工作距離 | 400 - 800mm |
| 軟件功能 | 具備條紋實時顯示以及圖像處理功能 |
| 條紋分辨率 | 1/20級條紋（26.6nm、15.8nm）（波長532nm，激光與平面法向夾角30°） |
由于雙光束相移電子散斑干涉儀可以方便地將物體表面的面內(nèi)位移通過干涉條紋表現(xiàn)出來，因此，該儀器不僅是光測力學教學的必備設備，也可用于展示復雜試樣表面的面內(nèi)位移分布，讓學生加深理解復雜表面的變形特征，是進行實驗教學和創(chuàng)新性教學重要手段。同時由于高靈敏度的測量特點，該儀器也可用于工業(yè)產(chǎn)品、復合材料、生物材料等特性檢測，以及高溫物體變形檢測等。